太阳GG

被动元器件又称为无源器件
，是指不影响信号基本特征
，仅令讯号通过而未加以更改的电路元件
，最常见的有电阻、电容、电感、陶振、晶振、变压器等。被动元件
，区别于自动元件。而海内此前则称无源器件和有源器件。被动元件内无需电源驱动且自身不耗电
，仅通过输入信号即可作出放大
，震荡和盘算的反应
，而不需要外加激励单位。种种电子产品都包括被动元件
，被动元件为电子电路工业之基石。被动元器件应用到汽车电子领域需要通过AEC-Q200认证
，接下来太阳GG实验室将与各人分享被动元器件AEC-Q200认证需要做哪些可靠性测试？

被动元器件AEC-Q200认证可靠性测试项目

AEC-Q200测试是对元器件品质与可靠度的认可。近年来车载装备越来越多
，对车用元件高可靠性的要求也越来越苛刻
，每个部件都关系到汽车驾驶员及旅客的清静
，因此选用优质元器件很是要害。下面先容一下AEC-Q200中常用的可靠性检测项目。

板弯曲测试

测试类型：板弯曲测试

测试要求：无显着的外观缺陷。

参考标准：AEC-Q200-005 (Sample Size：30 PCS )

测试要领：该仪器包括机械装置
，它可以应用使用线路板弯曲的力至少为Dx=2mm或凭证用户规格或Q200所界说的力。施加外力应一连60+5秒钟
，仅向线路板施加1次外力。

贴片器件端子強度测试

测试类型：端子強度测试

测试要求：无显着的外观缺陷。

参考标准：AEC-Q200-006

测试要领：施加一个17.7N（1.8kg)的力到测试器件的侧面
，别的力的施加时间为60+1秒。

引脚器件端子強度测试

测试类型：端子強度测试

测试要求：无显着的外观缺陷。

参考标准：MIL-STD-202 Method 211

测试要领：只举行引脚器件的引脚牢靠性测试。条件A(910克);C(1.13公 斤);E(1.45公斤-mm)。

高温贮存试验

测试类型：高温贮存试验

测试要求：

- 无显着的外观缺陷。

- ΔL/L≦10%

- ΔDCR/DCR≦10%

参考标准：MIL-STD-202G Method 108

测试要领：温度: N℃ (N:依据产品规格设定)

在额定事情温度下安排器件1000 小时.例如:125℃的产品可以在 125℃下存储1000 小时,同样地也适用于105℃和85℃的产品欠亨电。试验竣事后24±4 小时內举行测试。

温度循环试验

测试类型：温度循环试验

测试要求：

- 无显着的外观缺陷。

- ΔL/L≦10%

- ΔDCR/DCR≦10%

参考标准：JESD22 Method JA-104

测试要领：温度：N°C（N：依据产品规格設定）

1000个循环（-40°C到125°C）。注重：85°C或105°C的产品
，1000个循环应在其温度品级下举行。实验完成24±4个小时后
，再举行实验。每种温度的停留时间不凌驾30分钟
，转换时间不凌驾1分钟。

高温高湿试验

测试类型：高温高湿试验

测试要求：

- 无显着的外观缺陷。

- ΔL/L≦10%

- ΔDCR/DCR≦10%

参考标准：MIL-STD-202G Method 103

测试要领：在85°C/湿85%的情形中安排1000小时欠亨电。试验竣事 后24±4 小时內举行测试。

事情寿命试验

测试类型：事情寿命试验

测试要求：

- 无显着的外观缺陷。

- ΔL/L≦10%

- ΔDCR/DCR≦10%

参考标准：MIL-PRF-27

测试要领：1000小时105°C
，如产品温度为125°C或155°C
，应在其温度下举行
，试验竣事后24±4小时
，举行试验。

机械攻击试验

测试类型：机械攻击试验

测试要求：

- 无显着的外观缺陷。

- ΔL/L≦10%

- ΔDCR/DCR≦10%

参考标准：MIL-STD-202Method 213

测试要领：条件C：半正弦波、峰值加速率：100g.s
；脉冲时间：6ms
；接纳半正弦波形
，最大速率转变12.3英尺/秒。

振动测试

测试类型：振动测试

测试要求：

- 无显着的外观缺陷。

- ΔL/L≦10%

- ΔDCR/DCR≦10%

参考标准：MIL-STD-202 Method 204

测试要领：测试频率从10HZ 到2000HZ, 5g 的力20 分钟为一循环, XYZ 每个偏向各12 循环。

焊锡耐热测试

测试类型：焊锡耐热测试

测试要求：

- 无显着的外观缺陷。

- ΔL/L≦10%

- ΔDCR/DCR≦10%

参考标准：MIL-STD-202Method 210

测试要领：

插件类:

样品不举行預热
，在温度260℃的条件下浸入本體1.5mm的深度10秒(260+0/-5℃)。

贴片类:

- 参考如下图中的回流焊曲线
，经由两次
；

- 峰值温度：260+0/-5°C。

可焊性测试

测试类型：可焊性测试

测试要求：

- 无显着的外观缺陷。

- ΔL/L≦10%

- ΔDCR/DCR≦10%

参考标准：IPC J-STD-002D

测试要领：

- 蒸汽老化8 小时 (93℃);

- 于245℃±5℃的温度下焊锡5s

耐溶剂试验

测试类型：耐溶剂试验

测试要求：无显着的外观缺陷。

参考标准：MIL-STD- 202 Method 215

注重：增添水洗洗濯剂-OKEM洗濯剂或其它相同的溶剂
，不要使用榨取的溶剂。

电气特征测试

测试类型：电气特征测试

测试要求：

- 无显着的外观缺陷。

- ΔL/L≦10%

- ΔDCR/DCR≦10%

参考标准：User Spec.

上面是对被动元器件AEC-Q200认证需要做的可靠性测试项目的先容
，太阳GG实验室在半导体被动组件领域拥有普遍的能力和资质
，现在已资助多家电容、电感、变压器、晶振业者、被动组件厂通过AEC-Q200认证
，以差别性的高附加值效劳
，最短的项目交付时间知足被动组件产品相关的州测试、磨练、认证和包管的需求。