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文章泉源 : 广东太阳GG检测 揭晓时间：2024-09-03 浏览数目：
2022年8月 ，汽车电子委员会（AEC）正式宣布了全新的AEC-Q102-003光电多芯片模组（OE-MCMs）认证标准。这一标准的出台 ，旨在对日益增添的光电模组认证需求提供周全的规范和指导 ，特殊是在现有AEC-Q104多芯片模组的基础上 ，进一步细化了含有光电组件的多芯片模组的测试细节。
AEC-Q102-003标准界说的OE-MCMs包括至少一种光电器件 ，并由多个有源或无源器件组成。这些子组件通过焊接或胶粘方法毗连到线路板上 ，组成重大电路 ，最终封装在单个多芯片模组内。这些模组普遍应用于矩阵前照灯、智能RGB LED及红外传感器（如激光雷达模组）等产品中。
需要特殊注重的是 ，OE-MCMs的认证应当涵盖整个模组 ，而不但仅是其中的某一子组件。若是某产品仅以OE-MCM形式通过认证 ，模组中的任何单个子组件都不可单独被视为通过AEC认证。
凭证标准 ，OE-MCMs被分为五种常见类型：
- Type A: 由差别家族光电器件组成 ，如红外线反射式光电开关。
- Type B: 光电器件使用其内部光电信号功效组成 ，如光耦、光栅传感器。
- Type C: 由光电器件与其他IC器件组成 ，如RGB LED灯。
- Type D: 光电器件和其他芯片不可支解组成 ，如矩阵式LED头灯。
- Type E: 包括光电器件的IC封装 ，如CMOS传感器。
- Type F: 带有光电和其他子组件的PCB或基板 ，直接毗连到电路板 ，如脉冲激光模组。
OE-MCM的认证流程包括多个办法 ，旨在确保模组中所有子组件的失效机理、毗连性能及相互作用都获得周全测试。详细办法如下：
1. 超集认证测试建设: 针对一个完整OE-MCM建设超集认证测试。若是OE-MCM中包括IC、分立半导体器件、光电器件或MEMS器件 ，响应的AEC-Q100、Q101、Q102或Q103测试应包括在超集测试中。同时 ，还需针对整个OE-MCM模组举行板级可靠性、X-Ray和超声波扫描等特定测试。
2. 合并相同失效机理测试: 将超集中相同失效机理的测试项合并为一组 ，以简化测试流程。
3. 评估测试笼罩性: 评估是否可以用一个测试条件和时间笼罩所有的测试项目 ，并确保测试条件不凌驾模组产品规格书划定的规模。
4. 使用通用数据和替换测试: 在条件允许的情形下 ，可使用通用数据或子组件级别的认证测试作为替换测试 ，但封装相关的测试认证仍必需在OE-MCM级别完成。
5. 执行剩余超集测试: 对未在前几步中省略的所有超集测试举行验证。
在认证历程中 ，失效判据包括不切合OE-MCM规范、整体模组及单独芯片的性能漂移凌驾允许值等。样品数目方面 ，认证所需的样本数目在超集界说文件中有明确划定 ，关于重大的OE-MCM ，可以在供应商和用户协商后适当镌汰样本数目。
AEC-Q102-003认证标准的公布 ，为光电多芯片模组（OE-MCMs）的测试和认证提供了详尽的指导。太阳GG检测作为专业的第三方AEC-Q102认证机构 ，实验室具备AEC-Q102标准CNAS全项测试资质和能力 ，可为LED、光电二极管、激光元件等提供全方位的车规认证试验效劳。我们将继续为LED行业提供一流的手艺支持 ，确保产品质量的可靠性与清静性。
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