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AEC-Q200 REV D标准总共有14个表格，除表1列出通用测试的要求外，从表 2~14划排列出差别类型无源器件的测试计划和要求。薄膜电容AEC-Q200认证测试依据Table 4表格举行测试，广东太阳GG检测具备AEC-Q200全项CNAS检测资质和检测能力，可提供薄膜电容AEC-Q200认证测试效劳，接下来为各人先容下薄膜电容AEC-Q200认证测试项目及要求。

薄膜电容AEC-Q200认证测试项目及要求

1. High Temperature Exposure (Storage) 高温存储

测试要领：MIL-STD-202 Method 108；

测试要求：1000小时。在额定事情温度下（例如，85°C的零件可在85°C下贮存1000小时，同样适用于100°C和125°C的零件），欠亨电。试验竣事后24±4小时举行丈量。

2. Temperature Cycling 温度循环

测试要领：JES D22 Method JA-104；

测试要求：1000次循环（-55°C至85°C）注：若是部分温度为100°C或125°C，则1000次循环将处于该额定温度。试验竣事后24±4小时举行丈量。每个极端温度下的最大停留时间为30分钟。1分钟，最大过渡时间。

3. Moisture Resistance 湿度对抗

测试要领：MIL-STD-202 Method 106；

测试要求：t=24小时/周期。注：不需要办法7a和7b，欠亨电。试验竣事后24±4小时举行丈量。

4. Biased Humidity 偏高湿度

测试要领：MIL-STD-202 Method 103；

测试要求：1000小时40°C/93%相对湿度，额定电压。试验竣事后24±4小时举行丈量。

5. Operational Life 事情寿命

测试要领：MIL-STD-202 Method 108；

测试要求：1000小时TA=85°C，注：若是100°C或125°C为1000小时，则条件D（1000小时）；嵩谒宋露认。金属化膜：85℃时为额定电压的125%。85℃以上为额定电压的100%。试验竣事后24±4小时举行丈量。

6. External Visual 外观

测试要领：MIL-STD-883 Method 2009；

测试要求：检查产品结构、标记和工艺。不需要举行电气测试。

7. Physical Dimension 尺寸

测试要领：JESD22 Method JB-100；

测试要求：验证物理尺寸是否切合适用的产品规范。注：用户和供应商规范。不需要举行电气测试。

8. Terminal Strength (Leaded) 端子强度（引脚）

测试要领：MIL-STD-202 Method 211；

测试要求：仅测试引线装备的引线完整性。条件： A (2.27 kg), C (227 g), E (1.45 kg-mm)。

9. Resistance to Solvents 溶剂对抗

测试要领：MIL-STD-202 Method 215；

测试要求：注：也可使用水性化学洗濯剂-OKEM clean或一律产品。不要使用禁用溶剂。

10. Mechanical Shock 机械攻击

测试要领：MIL-STD-202 Method 213；

测试要求：要领213的图1。条件C

11. Vibration 振动

测试要领：MIL-STD-202 Method 204；

测试要求：5克20分钟，3个偏向各12个周期，使用8“X5”PCB，.031”厚。8”一侧有7个清静点，另一侧有2个清静点。装置在距任何清静点2”规模内的零件。从10-2000赫兹举行测试。

12. Resistance to Soldering Heat 耐焊接热

测试要领：MIL-STD-202 Method 210；

测试要求：注：SMD使用程序2；关于含铅使用程序1，焊料在装置主体1.5mm规模内。

13. ESD 静电放电

测试要领：AEC-Q200-002 Or ISO/DIS10605。

14. Solderability 可焊性

测试要领：J-STD-002；

测试要求：适用于含铅和SMD。不需要举行电气测试。放大50倍。条件：含铅：235°C时的要领A，第3类。SMD: a）要领B，155°C干热235°C下4小时

b）215°C时的要领b第3类。c）260°c时的要领D第3类。

15. Electrical Characterization 电气特征

测试要领：用户规格；

测试要求：按批次和样品尺寸要求举行参数化测试，总结以显示室温下的最小、最大、平均和标准误差以及最小和最大事情温度。

16. Flammability 可燃性

测试要领：UL-94；

测试要求：可接受V-0或V-1。不需要举行电气测试。

17. Board Flex 板弯曲

测试要领：AEC-Q200-005；

测试要求：最短坚持时间为60秒。

18. Terminal Strength (SMD) 端子强度（SMD）

测试要领：AEC-Q200-006。

薄膜电容AEC-Q200认证测试注重事项

1. 每个情形应力测试项现在后都要举行电参数测试，特殊要求除外。

2. 1000小时的长时间老化测试会特殊增添250，500，1000小时几个阶段。

3. 一样平常电参数测试会是在室温状态（25±5 °C ）下举行，应力测试完成后24±4小时内举行。

4. No.15 电参数测试将会在宣称的低温，室温，高温中举行测试。

5. 接受条件和要求参数依据客户规格书举行判断，AEC-Q200所有测试只接受零失败。

以上就是关于薄膜电容AEC-Q200认证测试项目及要求的先容，若是您有钽电容、陶瓷电容、铝电解电容、薄膜电容、可调电容等电容器产品需要做AEC-Q200认证测试，接待联系广东太阳GG检测工程师！