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文章泉源 : 广东太阳GG检测 揭晓时间：2024-06-24 浏览数目：
太阳GG电子元器件筛选实验室占地约2400平米，拥有全套资质和专业团队36人，配备180台/套先进的元器件筛选装备。我们致力于为客户提供高质量的电子元器件筛选效劳，包括恒定加速率筛选试验、电子元器件二次筛选、元器件失效剖析（FA）及可靠性验证等。
恒定加速率筛选试验，又称离心加速率试验，是使用机械旋转爆发恒定加速率，以测试元器件在离心加速率作用下的顺应能力和结构牢靠度。通过此试验，可以填补攻击和振动试验中未能发明的结构或机械类型缺陷。
在现实事情情形中，元器件通常不会遭受很大的离心加速率，只有在特定情形下如飞机转弯、火箭发射或导弹改变偏向时，可能会受到较大的离心加速率（10g~200g）。因此，海内外对元器件的筛选要求设定在5kg~30kg规模内，旨在筛选出粘片欠佳、内引线与键合点强度较差的器件，而不是模拟器件现实使用情形。
恒定加速率筛选试验的主要目的是评估元器件在X/Y/Z/X-/Y-/Z-六个偏向上遭受离心力的能力。通过此试验，可以袒露出由于元器件结构强度低或固有机械缺陷引起的失效情形，如芯片脱落、内引线开路、框架变形和漏气等问题。
我们常用的恒定加速率试验要领有两种：
1. 埋沙法
在埋沙法中，将元器件放入一个形状为立方体、内腔为圆柱体的夹具内牢靠住举行试验。这种要领能够有用牢靠元器件，并通过离心力测试其抗压能力。
2. 磁贴法
磁贴法使用磁力将元器件吸附在夹具上举行试验。这种要领简朴便捷，但需要确保磁力足够强盛以牢靠元器件。
恒定加速率试验中可能袒露的缺陷包括：
- 结构缺陷
- 芯片粘片问题
- 芯片裂纹
- 引线键合缺陷
- 机械强度缺乏
1. 施加的应力强度：应凭证管壳质量、管壳内腔周长及器件类型严酷凭证标准划定执行，以免由于过应力给器件留下隐患。
2. 牢靠器件外壳：器件外壳应接纳专用夹具牢靠，以免对外壳爆发损伤性应力。例如，使用细砂物质作填充料的离心罐应只管填实，并对器件外貌加以 ；，以免填充料磨损器件外貌或压凹器件管帽。
3. 试验偏向：关于内部元件主基座平面与Y轴笔直的器件，管壳装置偏向应使芯片脱离粘结偏向，即仅在称为Y1的偏向举行试验。
太阳GG电子元器件筛选实验室以专业的团队、先进的装备和严谨的实验要领，为客户提供高质量的恒定加速率筛选试验效劳 ＝哟底裳嘞晗感畔，我们将竭诚为您效劳。
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